<strong><a title="基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器" target="_blank">基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器</a></strong> <br />趙文彥，杜 影， 徐凌輝 <br />（<a >北京航天測控技術開發公司</a>，北京 100037） <br />摘要：根據系統級邊界掃描測試技術的應用需求，基于VXI總線的多功能邊界掃描測試控制器具備三種操作模式：IEEE1149.1 TAP模式、IEEE1149.5主控制器模式和從控制器模式。由上位機控制模件組態到期望的模式，模件上的TAP口控制器產生1149.1測試信號，提供給JTAG口用于通過TDO/TDI掃描鏈對被測目標板進行邊界掃描測試。IEEE1149.5主控制器可完成和從控制器間的通訊以便對機箱或子系統級中可測試性模件進行邊界掃描測試。兼容于BSDL和EDIF文件格式的自動測試向量生成軟件可實現多種掃描測試功能。 <br />閱讀全文：<a target="_blank">基于VXI總線的多功能邊界掃描控制器<br /></a>